尼通光譜儀XL5 Plus是一款新型的高性能 X 射線熒光(XRF)光譜分析儀,它的幾何結(jié)構(gòu)緊湊,又小又輕,同時(shí)具備石墨烯窗口的大面積硅漂移探測(cè)器和功能強(qiáng)大的5W X射線管,為苛刻的應(yīng)用(如薄涂層測(cè)量)提供了優(yōu)良的靈敏度。
適合檢測(cè)現(xiàn)代轉(zhuǎn)化膜,測(cè)量的Zr 和 Ti 在鋼、鍍鋅鋼或鋁合金等不同基體上的預(yù)期值和測(cè)量值之間取得了良好的相關(guān)性和一致性。與尼通XL3t手持式光譜儀的經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)法相比,基本參數(shù)模式更易于使用,更靈活,并且不需要許多參考樣品。無需標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn),僅使用每種涂層類型的少量樣品進(jìn)行檢測(cè),即可獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。如果需要更高精度,用戶可以微調(diào)分析儀的配置曲線,達(dá)到更好準(zhǔn)確度。